XEMIS是一款高精度的吸附微量天平，用于环境下的精密测量。它可作为微量天平单独使用，也可作为完整的吸附分析仪器。XEMIS有着出色的灵活性以及的称量精度和稳定性。 XEMIS微量天平采用了Hiden Isochema*的外部感知技术，可在高温、高压条件下进行重量吸附分析，也可与其他商业化的吸附微量天平仪器联用。